Автор: И. О. Атовмян
Название: Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
Категория: Наука, Образование/Математика
Издательство: Синергия
Год выпуска: 2014
Серия: Прикладная информатика. Научные статьи
Тип: book
Описание: В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-про
Доступна для скачивания после оплаты