Книга "Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств" - И. О. Атовмян

Автор: И. О. Атовмян

Название: Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств

Категория: Наука, Образование/Математика

Издательство: Синергия

Год выпуска: 2014

Серия: Прикладная информатика. Научные статьи

Тип: book

Описание: В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-про

Доступна для скачивания после оплаты